薄膜介電常數儀介質損耗測試儀

薄膜介電常數儀介質損耗測試儀計算公式

Cx=R4×  Cn / R3    R4[Ω]  R3[Ω]  Cn[pF]  Cx[pF]

tgδ=ω·R4·C4     R4[Ω]  C4[F]

當R4=10K/π

tgδ=C4     

當R4=1K/π

tgδ=0.1C4  

我們采取相對固定R4電阻，分別調節R3和C4使橋跟平衡，從而測得試品的電容值Cx和介質損耗tg。本電橋為了直讀出損耗值，取電阻R4的阻值為角頻率（f=50Hz）若干倍。

薄膜介電常數儀介質損耗測試儀操作規程

1.      本儀器必須有專人負責保管，使用，非專職操作者應在使用前了解和熟悉本說明書，以免造成不必要的損失和事故。

2.      每次使用前應仔細檢查接地線是否完好，確保以后方可通電使用。

3.      接通電源前應將靈敏度開關調到低位置。

4.      測量試品前應先對試品進行高壓試驗，證明在電橋工作電壓下無噪聲，電離等現象出現，然后才能進行測試（若試品己做過高壓試驗，該項可不必每次測量都做）。

5.      對試品施加高壓時緩慢升高，不可以加突變電壓。

6.      測試時操作人員必須集中思想，工作前做好一切準備工作，測試地點周圍應有明顯的標記或金屬屏蔽圍成高壓危險區，以防止非操作人員闖入。

7.      在測量過程中，如有放電管發光時，則必須及時切斷電源，仔細檢查接線及試品都無擊穿，待檢查排除故障后，再進行高壓測量工作。

能對固體絕緣材料在100kHz～100MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態，調諧電容值等。

Q值量程自動/手動量程控制。