硅橡膠介電常數(shù)損耗測定儀高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團的取向，因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子，雖然這種高聚物的極性很強，但只要固化比較，它的介質(zhì)損耗就不高。相反，支化使分子鏈間作用力減弱，分子鏈活動能力增強，介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。

聚合物1MHZ介電常數(shù)測試儀主電容調(diào)節(jié)范圍：18～220pF 準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明

介損試驗裝置符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998(2004)固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常數(shù)的試驗方法其采用了西林電橋的經(jīng)典線路，內(nèi)附0-2500的數(shù)顯高壓電源及100PF標準電容器，并可按用戶要求擴裝外接標準電容線路。

高壓介質(zhì)損耗測試儀本規(guī)程適用于在50Hz電源條件下測量電容量和介質(zhì)損耗因數(shù)的西林型、電流比較儀型以及電子式、數(shù)字式高壓電容電橋的檢定、后續(xù)檢定和使用中的檢驗。基于高壓電容電橋原理的高壓介損儀的電橋部分按本規(guī)程檢定，電橋部分與高壓電容器組合后按規(guī)程附錄F校準。

工頻介電常數(shù)損耗試驗儀3.4.1掃描方式列表掃描功能可對最多 10 個點的測試頻率，測試電平或直流偏置進行自動掃描測試。- 有兩種列表掃描測試方式：SEQ 方式和 STEP 方式。在 SEQ 方式下，每按[TRIGGER]鍵一次，所有列表掃描測試點將被自動測試一遍。在 STEP 方式下，每按[TRIGGER]鍵一次，僅對一個掃描測試點進行一次測試。