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    玻璃薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)測試儀

    玻璃薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)測試儀

    簡要描述:玻璃薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)測試儀頻率
    因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的εr和tanδ幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。
    電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,*重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的。

    更新時(shí)間:2024-07-15

    產(chǎn)品型號:GDAT-A

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

    訪問量:1031

    產(chǎn)品詳情
    品牌北廣精儀價(jià)格區(qū)間1萬-2萬
    應(yīng)用領(lǐng)域化工,農(nóng)林牧漁,文體,能源,建材/家具

    玻璃薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)測試儀試驗(yàn)報(bào)告

    試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出下列相關(guān)內(nèi)容:

    絕緣材料的型號名稱及種類、供貨形式、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣日期(并注明試樣厚度和試樣在與電極接觸的表面進(jìn)行處理的情況);

    試樣條件處理的方法和處理時(shí)間;

    電極裝置類型,若有加在試樣上的電極應(yīng)注明其類型;

    測量儀器;

    試驗(yàn)時(shí)的溫度和相對濕度以及試樣的溫度;

    施加的電壓;

    施加的頻率;

    相對電容率εr(平均值);

    介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ(平均值);

    試驗(yàn)日期;

    相對電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)值以及由它們計(jì)算得到的值如損耗指數(shù)和損耗角,必要時(shí),應(yīng)給出與溫度和頻率的關(guān)系。

    一、  概述

    介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

     

    二、  測試原理

    采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動設(shè)定,諧振點(diǎn)自動搜索,Q值量程自動轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至,并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。

     

    本測試裝置是由二只測微電容器組成,平板電容器一般用來夾持被測樣品,園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器,配用儀器作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。

     

     

    三、儀器的技術(shù)指標(biāo)

    1.Q值測量范圍:2~1023

     

    2.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

    3.電感測量范圍:自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能4.5nH-100mH 分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個(gè)電感組成。

    4.電容直接測量范圍:1~460pF                                                

    5.主電容調(diào)節(jié)范圍: 30~500pF                                            

    6.電容準(zhǔn)確度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%                                                                   7.信號源頻率覆蓋范圍100KHz-70MHz (雙頻對向搜索  確保頻率不被外界干擾)另有GDAT-C 頻率范圍200KHZ-100MHz

     

    8、型號頻率指示誤差:1*10-6 ±1                                      

    Q值合格指示預(yù)置功能范圍:5~1000

    Q值自動鎖定,無需人工搜索

     

    9.Q表正常工作條件

    a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃

    b.相對濕度:<80%;

    c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

     

    1.Q值測量范圍:2~1023

    表1  真空電容的計(jì)算和邊緣校正

    (1)

    極間法向電容

    (單位:皮法和厘米)

    (2)

    邊緣電容的校正

    (單位:皮法和厘米)

    (3)

    1.有保護(hù)環(huán)的圓盤狀電極

     

     

     

    2.沒有保護(hù)環(huán)的圓盤狀電極

    a)電極直徑=試樣直徑

     

     

     

    b)上下電極相等,但比試樣小

     

     

    其中:ε1 是試樣相對電容率的近似值,并且a≤h


    表1(續(xù))

    (1)

    極間法向電容

    (單位:皮法和厘米)

    (2)

    邊緣電容的校正

    (單位:皮法和厘米)

    (3)

    c)電極直徑=試樣直徑

     

     

     

    其中:ε1 是試樣相對電容率的近似值,并且a≤h

    3.有保護(hù)環(huán)的圓柱形電極

     

     

     

    4.沒有保護(hù)環(huán)的圓柱形電極

     

     

     

    其中:ε1 是試樣相對電容率的近似值

    試樣的相對電容率:

    其中:

    C'x——電極之間被測的電容;

    In——自然對數(shù);

    Ig——常用對數(shù)。

    表2 試樣電容的計(jì)算——接觸式測微計(jì)電極

    試樣電容

    符號定義’

    1.并聯(lián)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電容器來替代試樣電容

    CP——試樣的并聯(lián)電容

    △C——取去試樣后,為恢復(fù)平衡時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)電容器的電容增量

    Cr——在距離為r時(shí),測微計(jì)電極的標(biāo)定電容

    Cs——取去試樣后,恢復(fù)平衡,測微計(jì)電極間距為s時(shí)的標(biāo)定電容Cor,Coh——測微計(jì)電極之間試樣所占據(jù)的,間距分別為r或h的空氣電容??捎帽?中的公式1來計(jì)算r——試樣與所加電極的厚度

    h——試樣厚度

    相對電容率: 

    CP=△C+Cor

    試樣直徑至少比測微計(jì)電極的直徑小2r。在計(jì)算電容率時(shí)必須采用試樣的真實(shí)厚度h和面積A。

    2.取去試樣后減少測微計(jì)電極間的距離來替代試樣電容

    CP=Cs-Cr+Cor

    試樣直徑至少比測微計(jì)電極的直徑小2r。在計(jì)算電容率時(shí)必須采用試樣的真實(shí)厚度h和面積A。

    3.并聯(lián)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電容器來替代試樣電容

    當(dāng)試樣與電極的直徑同樣大小時(shí),僅存在一個(gè)微小的誤差(因電極邊緣電場畸變引起0.2%?0.5%的誤差),因而可以避免空氣電容的兩次計(jì)算。

    CP=△C+Coh

    試樣直徑等于測微計(jì)電極直徑,施于試樣上的電極的厚度為零。


    表3電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的計(jì)算——不接觸電極

    相對電容率

    (1)

    介質(zhì)損耗因數(shù)

    (2)

    符號意義

    (3)

    1.測微計(jì)電極(在空氣中)

     

     

    若ho 調(diào)到一個(gè)新值h'o,而△C=0時(shí)

     

    tanδx= tanδc +M·εr·△tanδ

     

    △C——試樣插人時(shí)電容的改變量(電容增加時(shí)為+號)

    C1——裝有試樣時(shí)的電容

    C1——僅有流體時(shí)的電容,其值為εr•Co

    Co——所考慮的區(qū)域上的真空電容,其值為εo•A/h0

    A——試樣一個(gè)面的面積,用 厘米2表示(試驗(yàn)的面積大于等于電極面積時(shí))

    ε1——在試驗(yàn)溫度下的流體相對電容率(對空氣而言εr =1. 00)

    ε0——電氣常數(shù)用皮法/厘米表示

    △tanδ——試樣插入時(shí),損耗因數(shù)的增加量

    tanδc——裝有試樣時(shí)的損耗因數(shù)

    tanδx試樣的損耗因數(shù)的計(jì)算值

    d0——內(nèi)電極的外直徑 d1——試樣的內(nèi)直徑 d2試樣的外直徑

    d3——外電極的內(nèi)直徑 h0——平行平板間距

    h——試樣的平均厚度

    M——h0 /h—1

    lg――常用對數(shù)

    注;在二流體法的公式中,腳注1和2分別表示種和第二種流體。

    2. 平板電極——流體排出法

     

    tanδx= tanδc +M·εr·△tanδ

     

    當(dāng)試樣的損耗因數(shù)小于1時(shí),可以用下列公式:

     

     

    3. 圓柱形電極——流體排出法(用于tanδ小于0.1時(shí))

     

     

    4. 二流體法——平板電極(用于tanδx小于0. 1時(shí))

     

     

     

    1——測微計(jì)頭;

    6——微調(diào)電容器;

    2——連接可調(diào)電極(B)的金屬波紋管;

    7——接檢測器;

    3——放試樣的空間(試樣電容器M1;

    8——接到電路上;

    4——固定電極(A);

    9——可調(diào)電極(B)。

    5——測微計(jì)頭;

     

    圖1  用于固體介質(zhì)測量的測微計(jì)——電容器裝置

    單位為毫米

     

    1——內(nèi)電極;

    1——把柄;

    2——外電極;

    5——棚硅酸鹽或石英墊圈;

    3——保護(hù)環(huán);

    6——硼硅酸鹽或石英墊圈。

    圖2  液體測量的三電極試驗(yàn)池示例

     

    注滿試驗(yàn)池所需的液體量大約15mL

    1——溫度計(jì)插孔;

    2——絕緣子;

    3——過剩液體溢流的兩個(gè)出口。

    圖3  測量液體的兩電極試驗(yàn)池示例

     

    1——溫度計(jì)插孔;

    2——1mm厚的金屬板;

    3——石英玻璃;

    4——1mm或2mm的間隙;

    5——溫度計(jì)插孔 

    玻璃薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)測試儀

    頻率

    因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的εr和tanδ幾乎是恒定的,且被用作工程電介質(zhì)材料,然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率。

    電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生,*重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的。

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