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銅片四探針電阻率測試儀本標準與SEMIMF84-1105和SEMI MF 397-1106相比,主要變化如下:卜全因斤的試件,如來遠用視展電況在數但上等于2,則兩內探什之間則得的電勢力。

ITO導電箔膜低阻測試儀探針間距數據的輸入，探針間距出廠時已經標定，無需再次測量，探針頭上有詳細的探針數據資料，探針間距的設置：將光標移動至“探針間距”按“設置”鍵進入，通過面板上面的“數字”按鍵輸入數據按“確定”鍵進行確認；按照以上方法和步驟設定”厚度“，注意厚度和探針間距修正系數表已經設置在儀器程序中，自動修正，無需再次輸入和查詢表格。

直流導電電阻測試儀配置手動粉末測試裝置也可以（選購）自動粉末測試裝置，測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，輸入儀器后自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求，經濟實惠，功能突出，設計合理，是粉末行業理想之測試儀器.

2439薄膜防靜電體積電阻率測試儀存儲溫度和濕度-10℃ 到 60℃ 80%RH 以下(無凝結)操作環境 室內,高海拔 2000m

薄膜體積電阻表面電阻率測試儀GB/T 10064-2006《測定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗方法》。適用范圍：適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。