介電常數介質損耗測試儀低頻

介電常數介質損耗測試儀低頻金屬箔片——厚度為0.0075~0.025mm且涂覆較小量精制凡士林，硅脂，硅油或其它合適低損耗粘合劑的鉛或錫箔片通常用于作為電極材料。鋁箔片也已經被使用，但是不建議使用，因為其具有剛性以及由于氧化的表面導致高接觸電阻的可能性。

鉛箔片也可能因為其剛性而產生問題。在足夠平滑壓力下應用這些電極，以排除所有的皺紋，同時過量的粘合劑可以在箔片邊緣上工作。一個非常有效的方法是使用一個窄輥，同時沿著表面向外滾壓，直到在箔片上沒有可見的標記。

通過小心處理，粘合劑膜可以減小至0.0025mm。該膜層與樣本串聯相連，這將總是導致測量的電容率太低，同時耗散因子有可能太高。對于厚度小于0.125mm的樣本，這些誤差通常變得非常大。

RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口測試信號電壓范圍：10mV—2Vrms電壓小分辨率:100μV，3位輸入

準確度

a）ALC ON 10% x設定電壓 + 2mV

b）ALC OFF 6% x設定電壓 + 2mV

測試信號電流范圍：100μA—20mA電流小分辨率：1μA，3位輸入準確度

a）ALC ON 10% x設定電流 + 20μA

b）ALC OFF 6% x設定電壓 + 20μA

DC偏置電壓源電壓 / 電流范圍：0V—±5V / 0mA—±50mA分辨率：0.5mV / 5μA 電壓準確度：1% x設定電壓 + 5mVISO ON：用于電感、變壓器加偏置測試AC源內阻ISO ON：100ΩISO OFF：30Ω、50Ω、100Ω可選 DCR源內阻：30Ω、50Ω、100Ω可選阻抗測試參數：|Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q,θ, DCR, Vdc-Idc測試頁面參數顯示：一組主、副參數；10點列表掃描變壓器測試參數：DCR1(初級，2端), DCR2（次級，2端），M（互感），N，1/N,Phase(相位), Lk(漏感)，

C(初、次級電容)，平衡測試

基本測量準確度阻抗測試參數:0.05% N:0 校準條件

a）預熱時間：≥30分鐘；

b）環境溫度：23±5oC；

c）信號電壓：0.3Vrms-1Vrms；

d）清“0"：OPEN、SHORT后；

e）測試電纜長度：0 m

測量時間(≥10 kHz):快速: 13 ms /次，中速: 67 ms/次，慢速: 187 ms/次，另加顯示字符刷新時間LCR參數顯示范圍1 | Z | , R ,X，DCR：0.00001Ω — 99.9999MΩ2 |Y|,G,B：0.00001μs — 99.9999s3 C：0.00001pF — 9.99999F4 L：0.00001μH — 99.9999kH5 D：0.00001 — 9.999996 Q：0.00001 — 99999.9 θ(DEG)：-179.999o — 179.999oθ(RAD)：-3.14159 — 3.14159 Δ%：-999.999% — 999.999%

等效電路：串聯, 并聯量程方式：自動, 保持觸發方式：內部, 手動, 外部, 總線平均次數：1－256校準功能：開路, 短路全頻、點頻校準， 負載校準數學運算：直讀, ΔABS, Δ%延時時間設定：0 -- 999, 小分辨率100us比較器功10檔分選，BIN1～BIN9、NG、AUX

對于這類薄樣本，只有當膜層耗散因子幾乎與樣本耗散因子相同時，該耗散因子誤差才是可以忽略的。當電極將延伸到邊緣，則制造的電極應大于樣本，然后切成帶小型細磨刀片的邊緣。受保護電極和保護電極可采用一個電極制造而成，該電極包含整個表面，通過配有一個窄切割邊緣的圓規方式來裁剪一條窄帶（可以為0.5mm）來制備電極。

介電常數介質損耗測試儀低頻固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、電纜料、薄膜復合制品、陶瓷和 玻璃等的相對介電系數（ε）與介質損耗角正切值（tgδ）的測試。本電極主要用于頻率在工頻50Hz下測量試品的相對介電系數（ε）和介質損耗角正切值（tgδ）。本電極的設計主要是參照國標GB1409-2006。

導電涂料——某些類型的高導電銀涂料，不管是空氣干燥還是低溫烘烤型類型，都可以從商業渠道獲得以作為電極材料使用。它們要有足夠的氣孔來允許濕分的擴散，從而允許試驗樣本在電極涂覆之后進行調節。

這對于研究濕度影響特別有用。涂料具有應用之后不準備立即使用的缺點。它通常要求整夜空氣干燥或低溫烘烤，以去除任何溶劑痕跡，因為溶劑痕跡可能增大電容率和耗散因子。