薄膜體積表面電阻率試儀

薄膜體積表面電阻率試儀典型應用

1、測量絕緣材料電阻(率)

2、測量防靜電材料的電阻及電阻率

3、測量計算機房用活動地板的系統(tǒng)電阻值

4、測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值

5、光電二極管暗電流測量

6、物理,光學和材料研究

標準配置:

1、測試儀器:1臺

2、.電源線:1條

3、測量線:3根(屏蔽線、測試接線、接地線)

4、使用說明書:1份

備注:

本儀器配不同的測量電極(夾具)可以測量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻

率或電導率,符合國家標準GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試

驗方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法 等標準要求。

薄膜體積表面電阻率試儀技術(shù)指標

1、電阻測量范圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。

2、電流測量范圍為: 2×10-4A~1×10-16A

3、顯 示 方 式:數(shù)字液晶顯示

4、內(nèi)置測試電壓: 10V 、50V、100V、250、500、1000V

5、基本準確度:1% (*注)

6、使用環(huán)境: 溫度:0℃~40℃,相對濕度<80%

重要性和用途絕緣材料用于電子系統(tǒng)彼此和與地面之間隔離，該材料能提供零部件的機械支撐。由于此用途，通常要求具有盡可能高的絕緣電阻，以與可接受的機械、化學和耐熱性能*。因為絕緣電阻或電導組合了體積和表面電阻或電導，當實際使用時，要求試驗樣本和電有相同的形式，此時的測量值是非常有用的。表面電阻或電導隨著濕度發(fā)生快速變化，然而體積電阻或電導則稍微變化，盡管總的變化在一些變化可能更大。電阻或電導可用于間接預測某些材料的低頻率電介質(zhì)擊穿和損耗因數(shù)性能。電阻或電導通常作為濕度含量，固化程度，機械連續(xù)性或不同類型老化的間接測量方式。這些間接測量的效用取決于通過理論或經(jīng)驗研究確立的相關度。表面電阻的降低可導致因為電場強度降低而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的增加，或者由于應力面積的增加而發(fā)生電介質(zhì)擊穿電壓的降低。

所有的電介質(zhì)電阻或電導都取決于電化時間長短和施加的電壓值（除了普通的環(huán)境變量之外）。這些因素必須已知，同時報告，以使得電阻或電導測量值有意義。在電絕緣材料工業(yè)中，形容詞“表觀"通常適用于在任意選擇電化時間條件下獲得的電阻值。體積電阻或電導可通過在特定應用場合設計某個絕緣體使用的電阻和尺寸數(shù)據(jù)計算得出。研究已經(jīng)表明電阻或電導隨著溫度和濕度的變化而變化（1,2,3,4）4，同時在設計工作條件時，必須已知這種變化。體積電阻或電導測量值通常用于檢查絕緣材料的均勻性，或者對于加工，可探測影響材料質(zhì)量的導電雜質(zhì)，而這不容易通過其它方法觀察到。體積電阻超過1021Ω·cm(1019Ω·cm)時，樣本在普通實驗室條件測試獲得的數(shù)值計算得出體積電阻，如果結(jié)果確實可疑，則應考慮通常使用的測量設備的局限性。表面電阻或電導不能準確測量，只能近似測量，因為體積電阻或電導總是受到測量方法的影響。測量值還受到表面污染的影響。表面污染及其積聚速度受到許多因素的影響，包括靜電充電和界面張力。這些因素反過來可以影響表面電阻。當包括污染，但是在通常常識下判斷不是電絕緣材料的材料性能時，此時表面電阻或電導可視為與材料性能相關。

電極系統(tǒng)絕緣材料的電極將允許親密接觸樣本表面，同時不會由于電極電阻或樣本的污染（5）而引入相當可觀的誤差。電極材料應在試驗條件下能耐腐蝕。當對制造樣本進行測試時，例如連接襯套，線纜等等，采用的電極作為樣本或其裝配組件的一部分。在這類場合，絕緣電阻或電導的測量值此時包括電極或安裝材料的污染影響，同時在實際使用時通常與樣本性能有關。3括號里的粗體數(shù)字參閱這些試驗方法附屬的參考文獻清單。