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    雙電測電四探針方阻電阻率測試儀

    雙電測電四探針方阻電阻率測試儀

    簡要描述:雙電測電四探針方阻電阻率測試儀覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試。

    更新時間:2024-07-15

    產品型號:BEST-300C

    廠商性質:生產廠家

    訪問量:1979

    產品詳情
    品牌北廣精儀產地類別國產
    類型數(shù)字式電阻測試儀應用領域化工,農林牧漁,文體,能源,建材/家具

    雙電測電四探針方阻電阻率測試儀描述

    采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

    雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

    雙電測電四探針方阻電阻率測試儀適用范圍

    四端測試法是目前較*之測試方法,主要針對高精度要求之產品測試;本儀器廣泛用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

    本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電導率單位自動選擇,BEST-300C 材料電導率測試儀自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成圖表和報表。

    本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產品及測試項目要求選購.

    提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,滿足國內及國外客戶需求

    1. 便于查看的顯示/直觀的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示;操作易學,直觀使用;

    2. 基本設置操作簡單,方阻、電阻、電阻率、電導率和分選結果;多種參數(shù)同時顯示。

    3. 精度高:電阻基本準確度: 0.05%;方阻基本準確度:3%;電阻率基本準確度:3%

    4. 整機測量最大相對誤差:≤±3%;整機測量標準不確定度:≤±3%

    5. 四位半顯示讀數(shù);八量程自動或手動測試;

    6. 測量范圍寬: 電阻:10-4Ω~105Ω ;方阻:10-4Ω/□~105Ω/□;

    7. 正反向電流源修正測量電阻誤差

    8. 恒流源:電流量程分為: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔;儀器配有恒流源開關可有效保護被測件,即先讓探針頭壓觸在被測材料上,后開恒流源開關,避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率,如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無影響時,恒流源開關可一直處于開的狀態(tài)。

    9. 可配合多種探頭進行測試;也可配合多種測試臺進行測試。

    10. 校正功能:可手動或自動選擇測試量程 全量程自動清零。

    11. 厚度可預設,自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出電阻率。

    12. 自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。

    13. 雙電測測試模式,測量精度高、穩(wěn)定性好.

    14. 具備溫度補償功能,修正被測材料溫漂帶來的測試結果偏差。

    15. 比較器判斷燈直接顯示,勿需查看屏幕,作業(yè)效率得以提高。

    3檔分選功能:超上限,合格,超下限,可對被測件進行HI/LOW判斷,可直接在LCD使用標志顯示;也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結果。

    16. 測試模式:可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。

    17. 豐富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實現(xiàn)遠程控制。U盤可記錄測試數(shù)據(jù)

    18. 軟件功能(選配):軟件可記錄、保存、各點的測試數(shù)據(jù);可供用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分

    析。

    標配:測試平臺一套、主機一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

    參照標準:

    1.硅片電阻率測量的標準(ASTM F84).

    2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

    3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

    4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

    雙電組合測試方法:

    利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

     如果你對BEST-300C雙電測電四探針方阻電阻率測試儀感興趣,想了解更詳細的產品信息,填寫下表直接與廠家聯(lián)系:

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